資訊中心NEWS CENTER
在發展中求生存，不斷完善，以良好信譽和科學的管理促進企業迅速發展
穆勒矩陣光譜橢偏儀作為一種精密光學測量儀器，在科學研究和工業生產中扮演著重要角色。它用于分析光的偏振狀態及其與物質相互作用的性質，對半導體、液晶、薄膜材料等的厚度、折射率、吸收系數等參數有著精確的測量能力。然而，為了確保其長期穩定運行和高精度測量，全面的維護策略是不可少的。本文將...
橢偏檢測機臺是一種用于檢測光學器件中的橢偏現象的儀器。在許多光學應用中，橢偏現象都是一個非常重要的問題。例如，在生物醫學成像、半導體制造和通訊技術等領域中，橢偏現象可能會影響到信號傳輸、成像質量和器件性能等方面。橢偏檢測機主要基于波片和偏振器的原理來實現。其中，波片是一種可調節光路差的器件，可以改變入射光的相位差；而偏振器則是一種只允許特定方向的光線通過的器件。通過將這兩種器件組合起來，我們可以得到一種檢測器，用于檢測光束是否具有橢偏現象。在使用橢偏檢測機進行實際測試時，需要...
查看詳情紅外橢偏儀是一種用于測量材料在紅外光譜區域中的線性和環狀偏振特性的儀器。該儀器通常由光源、樣品室、偏振元件、探測器、計算機等部分組成。它的工作原理是在樣品上通過旋轉兩個偏振元件，然后分析透過偏振器和樣品的旋轉角度與光強度之間的關系，來確定樣品的偏振性質。該儀器可以用于研究分子結構、晶體學、超晶格、表面物理化學等領域。它的應用范圍非常廣泛，如有機化合物、生物大分子、半導體材料、液晶顯示器材料等都可以通過紅外橢偏儀進行測量。在實際應用中，儀器的精度和穩定性非常重要。對于不同類型的...
查看詳情薄膜厚度測試儀由光源、分束器、樣品臺、檢測器、計算機等組成。光源發出一束光經過分束器分成兩束，一束照射在樣品表面并反射回來，另一束則不經過樣品直接到達檢測器。檢測器會收集這兩束光的信號，并計算它們之間的相位差，從而得出薄膜厚度。在現代工業生產中，各種材料和產品都需要涂覆一層薄膜來保護、改善或增強其性能。而薄膜的厚度是影響其功能和質量的重要因素之一，因此準確測量薄膜厚度對于產品質量控制和研發過程至關重要。而薄膜厚度測試儀就是用于測量薄膜厚度的專業工具。它可以測量各種薄膜(如金屬...
查看詳情教學橢偏儀是一種用于研究光學現象的實驗儀器，它可以讓我們更好地理解光線在不同介質中的傳播規律和偏振現象。被廣泛應用于材料科學、生物醫學、化學等領域的研究中。橢偏儀的基本結構由偏振片、準直器、透鏡以及旋轉平臺等組成。通過調節旋轉平臺，我們可以改變偏振器的方向，從而觀察到不同光線的偏振狀態。同時，使用透鏡和準直器可以將光線聚焦并使其盡可能垂直地交叉，以確保觀察到清晰的結果。在使用進行實驗時，我們通常會利用它來研究偏振光的旋光性質、雙折射現象以及各種非線性光學效應。以下是圍繞教學橢...
查看詳情薄膜厚度測試是一項非常重要的檢測技術，經常應用于電子、光學、化學、材料等領域。薄膜厚度是指在一個基底上涂覆的薄膜的厚度，通常用納米和微米來表示。厚度測試的目的是為了確保制造過程中的一致性和質量控制。在很多應用中，薄膜的厚度是非常關鍵的，因為薄膜的性能通常與其厚度密切相關。在厚度測試中，有很多種不同的測試技術可供選擇，其中包括光學檢測、X射線衍射、掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡等。這些測試技術各有優缺點，可以根據需要進行選擇。光學檢測是測試中常用的方法之一。這種方法利用了薄膜對光...
查看詳情反射膜厚儀是一種測量材料反射膜厚度的儀器，通常應用于光學領域。該儀器采用非接觸式測試技術，能夠測量反射率、透過率和相位角等參數，廣泛應用于薄膜制備、涂料加工、光學鏡頭等領域。該儀器主要是由測量系統、光源、檢測器等部分組成。測量系統是核心部分，不同的測量系統具有不同的測量原理。目前常用的測量系統有反射法、透射法、干涉法等。使用該膜厚儀可以非常方便地測量材料的反射率和透過率。利用反射率和透過率可以計算出材料的厚度和光學常數等參數。在光學領域，被廣泛應用于薄膜制備和涂料加工等領域。...
查看詳情
